專注環境試驗設備及整體解決方案國家高新技術企業｜國家專精特新企業
- 24小時服務熱線 (儀器詢價_非標定制) 135-5662-6679
電子元器件熱疲勞驗證方案：高低溫試驗箱助力芯片可靠性檢測
檢測標準：依據IEC 60068-2-14（環境試驗-溫度變化測試）
一、實驗具體參數
本方案針對BGA封裝芯片的熱疲勞失效驗證，采用高低溫試驗箱設定如下參數：
高溫區：+125℃（保持30分鐘）
低溫區：-40℃（保持30分鐘）
溫度轉換時間：≤1分鐘
循環次數：1000次
樣品數量：30片BGA芯片
二、實驗流程
預處理：將芯片焊接至測試PCB板，進行電性能初測，記錄初始阻抗值（基準值±5%內為合格）。
安裝：樣品置于高低溫試驗箱中部，避免接觸箱壁。
循環執行：按參數自動運行1000次溫循，期間每200次暫停，取出5片樣品進行X-ray焊點形貌檢測。
終測：完成全部循環后，對所有樣品進行電性能、阻抗及焊點切片分析。
三、實驗結果數據（典型值）
|
循環次數 |
失效樣品數 |
平均阻抗變化率 |
主要失效模式 |
|
0 |
0 |
0% |
— |
|
200 |
0 |
+1.2% |
無明顯異常 |
|
400 |
1 |
+4.8% |
焊角微裂紋 |
|
600 |
2 |
+9.3% |
貫穿性裂紋 |
|
800 |
5 |
+18.6% |
阻抗超標/間歇開路 |
|
1000 |
11 |
+35.4% |
焊點完全斷裂 |
結論：該批次芯片在600次溫循后開始出現明顯熱疲勞失效，800次循環后失效率達16.7%，未滿足車規級1000次循環后失效率≤5%的要求。選用專業高低溫試驗箱廠家的設備可確保溫變速率與均勻性精準，避免設備誤差影響判定。
廣東海達儀器有限公司提供的定制化高低溫沖擊解決方案，能精準滿足IEC 60068-2-14標準要求，幫助企業有效篩選電子元器件熱疲勞壽命。如需批量驗證或更嚴苛的測試標準，廣東海達儀器有限公司支持根據客戶產品特性定制更寬溫區（-70℃~150℃）或更高循環次數的測試方案。
- 快速通道
-
全國銷售熱線：13556626679
聯系人：陳先生 工廠工程師 郵箱：haidads01@qc-test.com
地址：廣東省東莞市萬江街道東圍一路1號每通產業園3棟 廣東海達儀器有限公司版權所有 備案號：粵ICP備08009758號
-
QQ客服
在線咨詢
-
聯系熱線
咨詢電話
13556626679
-
微信客服
微信掃一掃添加
-
在線留言
-
回到頂部
